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二氧化硅/ 木材复合材料的微观结构与物理性能

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符韵林, 赵广杰, 全寿京. 二氧化硅/ 木材复合材料的微观结构与物理性能[J]. 复合材料学报, 2006, 23(4): 52-59.

引用本文: 符韵林, 赵广杰, 全寿京. 二氧化硅/ 木材复合材料的微观结构与物理性能[J]. 复合材料学报, 2006, 23(4): 52-59.

FU Yun-lin, ZHAO Guang-jie, CHUN Sukyoung. Microstructure and physical properties of silicon dioxide/ wood composite[J]. Acta Materiae Compositae Sinica, 2006, 23(4): 52-59.

Citation: FU Yun-lin, ZHAO Guang-jie, CHUN Sukyoung. Microstructure and physical properties of silicon dioxide/ wood composite[J]. Acta Materiae Compositae Sinica, 2006, 23(4): 52-59.

二氧化硅/ 木材复合材料的微观结构与物理性能

符韵林1,2,  赵广杰2, ,  全寿京3 1.

广西大学林学院, 530004 南宁;

2.

北京林业大学材料科学与技术学院, 100083 北京;

基金项目: 教育部博士点专项基金(20020022011) ; 生物质材料科学与技术教育部重点实验室开放课题基金(04203)

详细信息

通讯作者:

赵广杰, 教授, 博士生导师, 研究方向: 木材物理、木材/ 无机复合材料 E-mail : zhaogjws @263. net

中图分类号: TB332

计量 文章访问数:  01839 HTML全文浏览量:  0105 PDF下载量:  01541 出版历程 收稿日期:  2005-09-22 修回日期:  2006-02-22 刊出日期:  2006-08-14

Microstructure and physical properties of silicon dioxide/ wood composite

1.

Forestry College of Guangxi University| Nanning 530004| China ;

2.

School of Materials Science and Technology| BeijingForestry University| Beijing 100083| China ;

3.

College of Forest Science| Kangwon National University| Chunchon 200701| Korea

摘要

摘要: 为了明确二氧化硅/ 木材复合材料的微观结构与物理性能, 通过EDAX 及XRD 的测定分析了溶胶2凝胶法制备的二氧化硅/ 木材复合材料的微观结构, 通过应力松弛、介电性质、热重、表面显微硬度的测定分析了该材料的物理性能。结果表明: 生成的二氧化硅与增重率呈正相关, 在纤维饱和点以下, 生成的二氧化硅存在于细胞壁中。XRD 衍射峰位置没有改变, 增重率增大, 峰强减弱, 结晶度减小。应力松弛量变小, 材料内部的结合力增强, 分子间产生了交联结合。介电常数值增大, 介电损耗随着频率的增加呈先增加后减小的趋势, 室温下, 出现最大峰值的频率均在log f = 6. 5 Hz 附近。热失重过程中, 快速失重的起始温度提高, 残余质量增加, 表面显微硬度提高。

Abstract: In order to completely know the microst ructure and physical characteristics of silicon dioxide/ wood composites , X-ray diff raction (XRD) and energy dispersive X-ray analyzer ( EDAX) are used for studying the microst ructure of silicon dioxide/ wood composites made by sol-gel. St ress relaxation , dielect ric properties , thermogravimet ry and surface microhardness mensurating methods are used for analyzing their physical properties. Theresult s show that silicon dioxide exist s in the cell wall of wood for silicon dioxide/ wood composites made by thewood of moisture content under the fibre saturation point . Crystallinity decreases , while the mole f raction of silicondioxide increases with the enhancement of mass gain. The position of XRD spect ra peak is the same as the unt reatment . The magnitude of st ress relaxation of silicon dioxide/ wood composites is less than the unt reatment . There isa cross-linking between wood molecule and silicon dioxide. The dielect ric constant decreases , while the dielect ricloss factor increases firstly , then decreases with increasing f requency. The f requency of the dielect ric loss factorreaching the maximum value is in the vicinity of log f = 6. 5 Hz at room temperature. The start temperature of fastthermogravimet ry of the silicon dioxide/ wood composites rises in the thermogravimet ry course , their remainder massincreases in the end , and their surface microhardness increases.

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